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出廠前高溫老化測試對工控機(jī)影響

工控機(jī),也稱為工業(yè)計算機(jī),是一種電子設(shè)備。電子設(shè)備的集成度越來越高,構(gòu)造越來越微妙,工藝越來越多,制造工藝越來越復(fù)雜,因而潛在的制造過程中可能會出現(xiàn)缺陷。在制造電子設(shè)備時,有兩種類型的產(chǎn)品質(zhì)量問題是由不科學(xué)的設(shè)計,原材料或工藝措施導(dǎo)致的。

第一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不符合標(biāo)準(zhǔn),所生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;

第二類是潛在缺陷,此類缺陷無法通過常規(guī)測試方法發(fā)現(xiàn),但務(wù)必在使用過程中逐漸暴露出來,比如晶圓表面污染,組織不穩(wěn)定性,焊錫空隙,芯片和管子的熱阻匹配等。

一般而言,在組件以額定功率和正常工作溫度運(yùn)行約一千小時后,務(wù)必激活(暴露)此類缺陷。顯然,如果IPC測試每個組件一千小時是不現(xiàn)實(shí)的,則務(wù)必對其施加熱應(yīng)力和偏壓,比如高溫功率應(yīng)力測試,以加速此類缺陷的早期暴露。即對電子設(shè)備施加熱、電、機(jī)械或各種外界應(yīng)力以模擬極端的工作環(huán)境,從而能夠提早發(fā)生工控機(jī)的潛在故障,也就是說高溫老化測試。

 

因此工控機(jī)在出廠前務(wù)必經(jīng)過高溫老化測試,能夠提早暴露缺陷,焊接和組件生產(chǎn)過程中的隱患。老化后,將測量電氣參數(shù),從表面上盡量消除產(chǎn)品在正常使用中的早期故障,以保障工控機(jī)產(chǎn)品能夠經(jīng)受住時間的考驗(yàn)。

 

 

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